我们展示的解决方案包括：
全站式自准直仪
一个用于精密对准、自准直和光束分析的强大平台。它降低了测试设置的复杂性，并支持研发与生产环境。
对准仪/角度计解决方案
适用于工业应用中激光对准、角度测量和光学系统优化的快速实用工具。
高级电子自准直仪
专为对精度、灵活性和高效工作流程有严格要求的精密应用设计。
高级光束轮廓分析系统
我们展示了一系列先进的光束轮廓分析系统，包括我们的新系统BeamOn TEC和BeamOn U3 e Pro。
此外，我们还推出了用于高性能光束分析和先进光学测量的Dumas Vision，适用于要求苛刻的光子学环境。
在Optatec展会上，我们的核心理念是：
一个平台，多样化的光学测量。
我们期待与寻求更智能、更实用的光学系统测量、对准和测试方法的光学制造商、激光集成商、光子学工程师及合作伙伴会面。
欢迎莅临3.0号馆702展位参观。

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